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可自动生成功率器件的I-V曲线功率器件测试仪
概述EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制，达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条
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2022-09-27 |
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易恩半导体分立器件测试系统
系统概述西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示
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2022-09-21 |
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半导体IGBT，MOS碳化硅老化半导体模块高温反偏测试仪
1、设备简述IGBT高温反偏试验是在一定温度条件（125℃）下，按照规定的时间和电压，对IGBT施加反偏电压，从而对器件进行质量检验
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2022-09-09 |
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易恩晶体管特性曲线图示仪
系统软件支持器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上USB接口程序实现的。该程序提供快速的器件测
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2022-08-24 |
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半导体元器件测试仪
01二极管/DIODE02晶体管/NPN型/PNP型03J型场效应管/J-FET04MOS场效应管/MOS-FET05双向可控硅/TRIAC06可控硅/SCR07绝缘栅双极大功
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2022-08-09 |
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半导体功率器件IGBT，MOS模块高温反偏测试仪
1、设备简述IGBT高温反偏试验是在一定温度条件（125℃）下，按照规定的时间和电压，对IGBT施加反偏电压，从而对器件进行质量检验
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2022-08-01 |
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半导体MOSFET，IGBT功率循环可靠性测试仪
一、功率循环测试系统概述本测试设备可对大功率IGBT器件进行功率循环耐久性试验，以确认IGBT器件承受结温波动的能力，通过试验前
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2022-07-12 |
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美国ST分立器件测试仪替代品
EN-2005B功率器件综合测试系统系统特征测试范围广（19总大类，27分类）升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范
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2022-07-09 |
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